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  1. <cite id="a6p1n"><listing id="a6p1n"></listing></cite>
    
    

        第三代
        半導(dǎo)體測試家族
        Third generation semiconductor testing family
        分類
        QT-8100 數(shù)?;旌?IC 測試系統(tǒng) (Cable-Mount)

        適用于常規(guī)DC、AC參數(shù)測試和混合類及模擬類IC器件功能性測試。 主要測試:電源管理類,數(shù)碼消費類,馬達(dá)驅(qū)動類,音頻放大器、運放等。



        懸浮電源

        多Site并行

        多通道高精度

        支持多種擴(kuò)展

        型號 QT-8100
        產(chǎn)品優(yōu)勢

        數(shù)?;旌螴C測試系統(tǒng)適用于常規(guī)DC、AC參數(shù)測試和混合類及模擬類IC器件功能性測試。主要測試:電源管理類,數(shù)碼消費類,馬達(dá)驅(qū)動類,音頻放大器、運放等

        主要特點 ? 懸浮V/I源,四象限
        ? 由測試盒引出全資源,支持8site以上并測
        ? 數(shù)字速率51.2MHz,向量深度64M
        ? 真并測,多路1000V/20A高壓大電流
        ? 18 bit 高精密采樣
        ? 多通道模擬能力,最大支持400VI通道
        多通道數(shù)字能力,最大支持256VI通道
        ? 多通道高精度時間測量單元,支持ns級別時間測量
        ? 支持RF模組擴(kuò)展
        ? 高效的通信配置,測試效率更高




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        1. <cite id="a6p1n"><listing id="a6p1n"></listing></cite>