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  1. <cite id="a6p1n"><listing id="a6p1n"></listing></cite>
    
    

        QT-8400GaN 氮化鎵測試系統(tǒng)
        探索第三代半導(dǎo)體的無限可能

        測試主機(jī)

        GaN Test Kit

        Power Device Test Kit

        QT-8400 由測試主機(jī)與測試站 Test Kit 組成,
        其中 Test Kit 分為兩種:Power Device Test Kit & GaN Test Kit。

        Test Kit
        可根據(jù)需求進(jìn)行選擇
        • Power Device Test Kit

          面向 MOSFET/SIC、二極管、三極管等 CP 測試需求的 Power Device Test Kit.

        • GaN Test Kit

          面向氮化鎵測試需求的 GaN Test Kit.

        105cm
        站姿鍵盤高度
        75cm
        坐姿鍵盤高度
        創(chuàng)新標(biāo)識設(shè)計
        站坐快速切換
        觸動人心的
        用戶體驗(yàn)
        8400機(jī)箱從人體工學(xué)設(shè)計出發(fā)針對設(shè)計公司、實(shí)驗(yàn)室和封測廠等不同環(huán)境場所,滿足了用戶站姿與坐姿不同狀態(tài)下的鍵盤操作使用需求,我們設(shè)計了獨(dú)有的指引標(biāo)識線,能讓用戶快速的找到站立或坐姿時推薦的鍵盤高度,也可根據(jù)個人身高差異自行微調(diào),極大提升了操作舒適性和效率。

        * 已申請專利

        創(chuàng)新標(biāo)識設(shè)計
        站坐快速切換
        觸動人心的
        用戶體驗(yàn)
        8400機(jī)箱從人體工學(xué)設(shè)計出發(fā)針對設(shè)計公司、實(shí)驗(yàn)室和封測廠等不同環(huán)境場所,滿足了用戶站姿與坐姿不同狀態(tài)下的鍵盤操作使用需求,我們設(shè)計了獨(dú)有的指引標(biāo)識線,能讓用戶快速的找到站立或坐姿時推薦的鍵盤高度,也可根據(jù)個人身高差異自行微調(diào),極大提升了操作舒適性和效率。

        * 已申請專利

        105cm
        站姿鍵盤高度
        75cm
        坐姿鍵盤高度
        并行測試,效率倍增
        支持 2/4/8/16 Site并行測試,滿足客戶對更高測試效率的需求。
        測試需求,全方位覆蓋
        QT-8400 整機(jī)提供 20A/100A、1KV/2KV 的多site并測方案,支持?jǐn)U展高壓/直流模組,最高可達(dá) 8KV, 2000A,支持?jǐn)U展雪崩、RGCG,動態(tài) RDson 等動態(tài)參數(shù)測試模組,滿足第三代半導(dǎo)體的測試需求。

        QT-8400 GaN

        QT-8400 D

        測試范圍

        專用于氮化鎵動靜態(tài)電參數(shù)測試

        測試范圍

        專用于 MOSFET/SIC 、二極管、三極管、IGBT等 CP測試。

        參數(shù)指標(biāo)

        懸浮 V/I 源
        電壓 1KV/2KV
        20A/100A;

        參數(shù)指標(biāo)

        懸浮 V/I 源
        電壓1KV/2KV/3KV
        20A/100A/200A

        并行測試數(shù)

        2/4/8/16 Site

        并行測試數(shù)

        2/4/8/16 Site

        可擴(kuò)展動態(tài)模組

        LCR測試模組(CG)
        動態(tài) RDSON 模組(支持硬切和軟切)

        可擴(kuò)展動態(tài)模組

        雪崩測試模組(UIS、EAS)
        LCR測試模組(RG、CG)

        可擴(kuò)展高壓/直流模組

        最高可擴(kuò)展8KV, 2KA

        可擴(kuò)展高壓/直流模組

        最高可擴(kuò)展8KV, 2KA

        精準(zhǔn)測量

        GaN Test Kit內(nèi)置精密測量電路,實(shí)現(xiàn)nA級和mΩ級的精準(zhǔn)測量。

        精準(zhǔn)測量

        Power Device Test Kit內(nèi)置精密測量電路,實(shí)現(xiàn)nA級和mΩ級的精準(zhǔn)測量。

        板卡資源靈活搭配
        我們的設(shè)備采用可插拔式板卡架構(gòu),允許您根據(jù)需求靈活搭配板卡,從而實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)把控測試成本。
        功能全面,滿足各類需求
        測試主機(jī)板卡均為四象限V/I源,配備AWG和示波器,功能全面,滿足如 I-V 曲線等各類掃描測試需求。

        內(nèi)置示波器圖

        AWG編輯器
        PTS OS 直觀易用,
        專為測試&生產(chǎn)而設(shè)計
        我們對 QT-8400 PTS OS 軟件界面全面優(yōu)化,以提升實(shí)用性、美觀性和易用性。極大提高測試開發(fā)、生產(chǎn)以及調(diào)試校準(zhǔn)效率,使用戶輕松上手高效操作。

        * 已申請專利

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