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        第三代
        半導(dǎo)體測(cè)試家族
        Third generation semiconductor testing family
        首頁(yè) 產(chǎn)品中心 視像檢測(cè) QuickView 視像檢測(cè)系統(tǒng)
        分類(lèi)
        3D 檢測(cè)工位

        基于半導(dǎo)體行業(yè)需求設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),采用運(yùn)行穩(wěn)定的工業(yè)相機(jī)及工控電腦,數(shù)字傳輸準(zhǔn)確無(wú)誤,反映迅速、抓圖清晰、完整可靠



        懸浮電源

        多Site并行

        多通道高精度

        支持多種擴(kuò)展

        型號(hào) 3D檢測(cè)工位
        產(chǎn)品介紹 全面滿(mǎn)足最高速Handler的生產(chǎn)速度,檢測(cè)工位齊全,滿(mǎn)足客戶(hù)各種檢測(cè)需求。QV系列檢測(cè)系統(tǒng),可配置的檢測(cè)工位有:3D檢測(cè)工位、印字工位、編帶工位、方向工位等
        本系統(tǒng)可搭配各款Handler,檢測(cè)范圍涵蓋半導(dǎo)體各類(lèi)器件,如:SOT23、SOD123、SOD323、 SOD523、 SOD923、SMA、SMB、SMC、SOD882(1006)、TO92、TO252、SOD129、MBS、SOP8L等軟件系統(tǒng)提供中英文界面、多級(jí)權(quán)限控制,自動(dòng)化程度高
        軟件系統(tǒng)100%聯(lián)動(dòng)研發(fā),按照機(jī)器視像檢測(cè)流程,優(yōu)化組合、易于操作應(yīng)用
        所有工業(yè)相機(jī)的各項(xiàng)參數(shù),如快門(mén)時(shí)間、增益、對(duì)比度、光源亮度等均可通過(guò)軟件調(diào)節(jié)
        QV系列機(jī)器視覺(jué)識(shí)別系統(tǒng),為半導(dǎo)體行業(yè)的各式封裝器件,對(duì)產(chǎn)品管腳及塑封體進(jìn)行字模、2D管腳、3D管腳及塑封體表面瑕疵等全方位、高精度視像檢測(cè)
        應(yīng)用方便、操作簡(jiǎn)易、系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定,提升客戶(hù)的生產(chǎn)能力
        及時(shí)檢測(cè)半導(dǎo)體行業(yè)各類(lèi)器件精確度,提高生產(chǎn)效率
        執(zhí)行校準(zhǔn)快捷,保證零次品率,提高生產(chǎn)質(zhì)量
        功能 ? 檢測(cè)器件引腳信息(腳長(zhǎng)、腳寬、腳間距、腳偏移、站力度、傾斜度、跨度、管腳長(zhǎng)度差等)
        ? 檢測(cè)器件表面印章內(nèi)容(錯(cuò)字、多字、漏字、污損、偏移、重印模糊、劃痕、塑封體崩裂等)
        ? 檢測(cè)器件側(cè)面信息(劃痕、崩裂、氣泡等)
        基本配置 CCD相機(jī)、工業(yè)鏡頭、LED光源、機(jī)械結(jié)構(gòu)件
        SI檢測(cè) 最小面積0.7mm*0.7mm,整體平均灰度的差值在40以上
        GR&R <10%




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