第三代
半導體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
Prober
適用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動探針測試。 自動上下片，Wafer ID讀取。 全自動CCD視覺對針定位。 高精度定位平臺。 支持常高溫測試。 實時生成Mapping顯示Bin。 通用GPIB、TTL、R-232接口。
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懸浮電源 |
多Site并行 |
多通道高精度 |
支持多種擴展 |
| 型號 | Prober |
| 產(chǎn)品介紹 |
適用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動探針測試。
自動上下片，Wafer ID讀取。 |
| 功能 |
? 全自動CCD視覺對針定位。 ? 高精度定位平臺。 ? 支持常高溫測試。 ? 實時生成Mapping顯示Bin。 ? 通用GPIB、TTL、R-232接口。 |
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