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QT-8400 功率器件多Site測(cè)試系統(tǒng)

探索第三代半導(dǎo)體的無(wú)限可能

測(cè)試主機(jī)

GaN Test Kit

Power Device Test Kit

QT-8400 由測(cè)試主機(jī)與測(cè)試站 Test Kit 組成，
其中 Test Kit 分為兩種：Power Device Test Kit & GaN Test Kit。

Test Kit

可根據(jù)需求進(jìn)行選擇

Power Device Test Kit

面向 MOSFET/SIC、二極管、三極管等 CP 測(cè)試需求的 Power Device Test Kit.
GaN Test Kit

面向氮化鎵測(cè)試需求的 GaN Test Kit.

105cm

站姿鍵盤(pán)高度

75cm

坐姿鍵盤(pán)高度

創(chuàng)新標(biāo)識(shí)設(shè)計(jì)
站坐快速切換

觸動(dòng)人心的
用戶(hù)體驗(yàn)

8400機(jī)箱從人體工學(xué)設(shè)計(jì)出發(fā)針對(duì)設(shè)計(jì)公司、實(shí)驗(yàn)室和封測(cè)廠(chǎng)等不同環(huán)境場(chǎng)所，滿(mǎn)足了用戶(hù)站姿與坐姿不同狀態(tài)下的鍵盤(pán)操作使用需求，我們?cè)O(shè)計(jì)了獨(dú)有的指引標(biāo)識(shí)線(xiàn)，能讓用戶(hù)快速的找到站立或坐姿時(shí)推薦的鍵盤(pán)高度，也可根據(jù)個(gè)人身高差異自行微調(diào)，極大提升了操作舒適性和效率。

* 已申請(qǐng)專(zhuān)利

創(chuàng)新標(biāo)識(shí)設(shè)計(jì)
站坐快速切換

觸動(dòng)人心的
用戶(hù)體驗(yàn)

8400機(jī)箱從人體工學(xué)設(shè)計(jì)出發(fā)針對(duì)設(shè)計(jì)公司、實(shí)驗(yàn)室和封測(cè)廠(chǎng)等不同環(huán)境場(chǎng)所，滿(mǎn)足了用戶(hù)站姿與坐姿不同狀態(tài)下的鍵盤(pán)操作使用需求，我們?cè)O(shè)計(jì)了獨(dú)有的指引標(biāo)識(shí)線(xiàn)，能讓用戶(hù)快速的找到站立或坐姿時(shí)推薦的鍵盤(pán)高度，也可根據(jù)個(gè)人身高差異自行微調(diào)，極大提升了操作舒適性和效率。

* 已申請(qǐng)專(zhuān)利

105cm

站姿鍵盤(pán)高度

75cm

坐姿鍵盤(pán)高度

并行測(cè)試，效率倍增

支持 2/4/8/16 Site并行測(cè)試，滿(mǎn)足客戶(hù)對(duì)更高測(cè)試效率的需求。

測(cè)試需求，全方位覆蓋

QT-8400 整機(jī)提供 20A/100A、1KV/2KV 的多site并測(cè)方案，支持?jǐn)U展高壓/直流模組，最高可達(dá) 8KV, 2000A，支持?jǐn)U展雪崩、RGCG，動(dòng)態(tài) RDson 等動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試模組，滿(mǎn)足第三代半導(dǎo)體的測(cè)試需求。

QT-8400 GaN

QT-8400 D

測(cè)試范圍

專(zhuān)用于氮化鎵動(dòng)靜態(tài)電參數(shù)測(cè)試

測(cè)試范圍

專(zhuān)用于 MOSFET/SIC 、二極管、三極管、IGBT等 CP測(cè)試。

參數(shù)指標(biāo)

懸浮 V/I 源
電壓 1KV/2KV
20A/100A；

參數(shù)指標(biāo)

懸浮 V/I 源
電壓1KV/2KV/3KV
20A/100A/200A

并行測(cè)試數(shù)

2/4/8/16 Site

并行測(cè)試數(shù)

2/4/8/16 Site

可擴(kuò)展動(dòng)態(tài)模組

LCR測(cè)試模組（CG）
動(dòng)態(tài) RDSON 模組（支持硬切和軟切）

可擴(kuò)展動(dòng)態(tài)模組

雪崩測(cè)試模組（UIS、EAS）
LCR測(cè)試模組（RG、CG）

可擴(kuò)展高壓/直流模組

最高可擴(kuò)展8KV, 2KA

可擴(kuò)展高壓/直流模組

最高可擴(kuò)展8KV, 2KA

精準(zhǔn)測(cè)量

GaN Test Kit內(nèi)置精密測(cè)量電路，實(shí)現(xiàn)nA級(jí)和mΩ級(jí)的精準(zhǔn)測(cè)量。

精準(zhǔn)測(cè)量

Power Device Test Kit內(nèi)置精密測(cè)量電路，實(shí)現(xiàn)nA級(jí)和mΩ級(jí)的精準(zhǔn)測(cè)量。

板卡資源靈活搭配

我們的設(shè)備采用可插拔式板卡架構(gòu)，允許您根據(jù)需求靈活搭配板卡，從而實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)把控測(cè)試成本。

功能全面，滿(mǎn)足各類(lèi)需求

測(cè)試主機(jī)板卡均為四象限V/I源，配備AWG和示波器，功能全面，滿(mǎn)足如 I-V 曲線(xiàn)等各類(lèi)掃描測(cè)試需求。

內(nèi)置示波器圖

AWG編輯器

PTS OS 直觀(guān)易用，
專(zhuān)為測(cè)試&生產(chǎn)而設(shè)計(jì)

我們對(duì) QT-8400 PTS OS 軟件界面全面優(yōu)化，以提升實(shí)用性、美觀(guān)性和易用性。極大提高測(cè)試開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)以及調(diào)試校準(zhǔn)效率，使用戶(hù)輕松上手高效操作。

* 已申請(qǐng)專(zhuān)利

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