第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
KGD handler
全自動測試，支持SiC晶圓、Waffle Pack、Tape&Reel上料與下料。 多工位并行測試，不同工位支持不同溫度與測試項目。 靜態(tài)、動態(tài)、雪崩功能測試，且測試順序可調(diào)。 高溫預(yù)熱與芯片表面防氧化保護。 高溫測試，溫度范圍：室溫~200°C。 加電針卡為密封設(shè)計，支持充氮氣保護防高壓打火與氮氣壓力監(jiān)測。
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懸浮電源 |
多Site并行 |
多通道高精度 |
支持多種擴展 |
| 型號 | KGD handler |
| 產(chǎn)品介紹 |
全自動測試，支持SiC晶圓、Waffle Pack、Tape&Reel上料與下料。 |
| 功能 |
? 多工位并行測試，不同工位支持不同溫度與測試項目。 ? 靜態(tài)、動態(tài)、雪崩功能測試，且測試順序可調(diào)。 ? 高溫預(yù)熱與芯片表面防氧化保護。 ? 高溫測試，溫度范圍：室溫~200°C。 ? 加電針卡為密封設(shè)計，支持充氮氣保護防高壓打火與氮氣壓力監(jiān)測。 |
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中國廣東省佛山市南海國家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號 |
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