第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-4100 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
適用于MOSFET、SIC 、IGBT 、氮化鎵，二極管、三極管、可控硅、固態(tài)放電管、三端穩(wěn)壓、光耦等電性參數(shù)測(cè)試。提供整套成熟測(cè)試方案，全面支持DC，EAS，RGCG，熱阻，SW開關(guān)特性，短路測(cè)試，TRR，QG等動(dòng)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試?？蓪?shí)現(xiàn)多工站測(cè)試數(shù)據(jù)合并。
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限壓限流 |
高精度Rdon測(cè)試 |
模塊化功能 |
多站數(shù)據(jù)合并 |
| 型號(hào) | QT-4100 功率器件測(cè)試系統(tǒng) |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) |
測(cè)量防呆：電壓、電流測(cè)量自動(dòng)自檢，異常自動(dòng)報(bào)警停機(jī) LOW RDON 快速自檢：無(wú)需外接負(fù)載，2分鐘完成自檢 第三方校準(zhǔn)：采用Agilent 34401A進(jìn)行校準(zhǔn) 內(nèi)置示波器功能 支持多工位設(shè)備數(shù)據(jù)合并 |
| 主要特點(diǎn) |
? 繼電器3ms； ? 限壓限流保護(hù)； ? 支持?jǐn)U展EAS，LCR，熱阻，SW，TRR，QG； ? 填表式編程； ? 支持PAT功能； ? 具備SECS/GEM標(biāo)準(zhǔn)接口 |
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