<legend id="a6p1n"></legend>
    2. <cite id="a6p1n"><listing id="a6p1n"></listing></cite>
    

      

        

        
                                                


        
        
        
            
            
        
                
        
                
        
            
        
            
        
        

         
  

        
     
 
 
        
	
        
		
        
			
        
				
        
					
                      
				
        
				
        
					
        
						QT-8400功率器件多Site測(cè)試系統(tǒng)
					
        
					
        
						探索第三代電晶體的無(wú)限可能
					
        
				
        
			
        
		
        
		
        
			
        
			
        
			
        
				 
			
        
			
        
				
        
					 
				
        
				
        
					 
					
        
						測(cè)試主機(jī)
					
        
				
        
				
        
					 
					
        
						GaN
					
        
				
        
				
        
					 
					
        
						Power Device
					
        
				
        
				
        
					
        
						QT-8400由測(cè)試主機(jī)與測(cè)試站Test Kit組成，
        
                其中Test Kit分為兩種： Power Device Test Kit & GaN Test Kit。
					
        
				
        
			
        
		
        
	
        
	
        
		
        
		
        
		
        
		
        
	
        

        
            

        
	
        
		
        
			
        
				
        
					Test Kit
				
        
				
        
					可根據(jù)需求進(jìn)行選擇
				
        
			
        
		
        
	
        
	
        
		                                                                
	
        

        
             
             

        
	
        
		
        
			
        
				
          
					
        • 
						
          
							
          
								 
							
          
							
          
								
          
									Power Device Test Kit
								
          
								
          
									面向MOSFET/SIC、二極體、三極管等CP測(cè)試需求的 Power Device Test Kit.
								
          
							
          
						
          
					
          • 
					
        • 
						
          
							
          
								 
							
          
							
          
								
          
									GaN Test Kit
								
          
								
          
									面向氮化鎵測(cè)試需求的 GaN Test Kit.
								
          
							
          
						
          
					
          • 
				
        
			
        
		
        
	
        

        
             
            

        
	
        
		
        
			                               
			
        
				
        
					105cm
				
        
				
        
					站姿鍵盤高度
				
        
                                
			
        
			
        
				
        
					75cm  
				
        
				
        
					坐姿鍵盤高度
				
        
                                
			
        
		
        
		
        
		
        
		
        
			
        
				
        
					創(chuàng)新標(biāo)識(shí)設(shè)計(jì)
        
               站坐快速切換
				
        
			
        
			
        
				
        
					觸動(dòng)人心的
        
                用戶體驗(yàn)
				
        
				
        
					8400主機(jī)殼從人體工學(xué)設(shè)計(jì)出發(fā)針對(duì)設(shè)計(jì)公司、實(shí)驗(yàn)室和封測(cè)廠等不同環(huán)境場(chǎng)所，滿足了用戶站姿與坐姿不同狀態(tài)下的鍵盤操作使用需求，我們?cè)O(shè)計(jì)了獨(dú)有的指引標(biāo)識(shí)線，能讓用戶快速的找到站立或坐姿時(shí)推薦的鍵盤高度，也可根據(jù)個(gè)人身高差異自行微調(diào)，極大提升了操作舒適性和效率。
					
        
						* 已申請(qǐng)專利 
					
        
				
        
			
        
		
        
	
        

        
                
             

        
	
        
		
        
			
        
				創(chuàng)新標(biāo)識(shí)設(shè)計(jì)
        
                站坐快速切換
			
        
		
        
		
        
			                    
                    
		
        
	
        

        
             
            

        
	
        
		
        
			
        
				觸動(dòng)人心的
        
                 使用者體驗(yàn)
			
        
			
        
				8400主機(jī)殼從人體工學(xué)設(shè)計(jì)出發(fā)針對(duì)設(shè)計(jì)公司、實(shí)驗(yàn)室和封測(cè)廠等不同環(huán)境場(chǎng)所，滿足了用戶站姿與坐姿不同狀態(tài)下的鍵盤操作使用需求，我們?cè)O(shè)計(jì)了獨(dú)有的指引標(biāo)識(shí)線，能讓用戶快速的找到站立或坐姿時(shí)推薦的鍵盤高度，也可根據(jù)個(gè)人身高差異自行微調(diào)，極大提升了操作舒適性和效率。
				
        
					* 已申請(qǐng)專利 
				
        
			
        
		
        
		
        
			
                                         
			
        
				
        
					105cm
				
        
				
        
					站姿鍵盤高度
				
        
                     
			
        
		
        
	
        

        
             
             

        
	
        
		
        
			
                                                 
			
        
				
        
					75cm  
				
        
				
        
					坐姿鍵盤高度
				
        
                         
			
        
		
        
	
        

        
             
            

        
	
        
		
        
			
        
				並行測(cè)試，效率倍增
			
        
			
        
				支持2/4/8/16 Site並行測(cè)試，滿足客戶對(duì)更高測(cè)試效率的需求。
			
        
		
        
		
        
			
		
        
	
        

        
             
    

        
	
        
		
        
			
        
				測(cè)試需求，全方位覆蓋
			
        
			
        
				QT-8400 整機(jī)提供 20A/100A、1KV/2KV 的技術(shù)指標(biāo)，能夠滿足大多數(shù)第三代半導(dǎo)體的測(cè)試需求。 如果客戶有更高規(guī)格的需求，我們也支援?dāng)U充高壓/直流模組，最高可達(dá) 8KV, 2000A。 對(duì)於有動(dòng)態(tài)測(cè)試需求的用戶，我們還提供雪崩、RGCG，動(dòng)態(tài) RDson 等模組的擴(kuò)展，並規(guī)劃未來(lái)相容更多的動(dòng)態(tài)測(cè)試模組。
			
        
		
        
		
        
			
        
				
        
					
						
        
							
								
        
									QT-8400 GaN
								
        
							        		
							
								
        
									QT-8400 D
								
        
							        		
						
        
						
        
							
								
        
									測(cè)試範(fàn)圍
								
        
								
        
									專用於氮化鎵動(dòng)靜態(tài)電參數(shù)測(cè)試
								
        
							        		
							
								
        
									測(cè)試範(fàn)圍
								
        
								
        
									專用於 MOSFET/SIC 、二極體、三極管、IGBT等 CP測(cè)試。
								
        
							        		
						
        
						
        
							
								
        
									參數(shù)指標(biāo)
								
        
								
        
									懸浮 V/I 源
        
                                                                        電壓 1KV/2KV
        
                                                                        20-100A；
								
        
							        		
							
								
        
									參數(shù)指標(biāo)
								
        
								
        
									懸浮 V/I 源
        
                                                               電壓1KV/2KV/3KV
        
                                                                20-100A/200A
								
        
							        		
						
        
						
        
							
								
        
									平行測(cè)試數(shù)
								
        
								
        
									2/4/8/16 Site
								
        
							        		
							
								
        
									平行測(cè)試數(shù)
								
        
								
        
									2/4/8/16 Site
								
        
							        		
						
        
						
        
							
								
        
									可擴(kuò)充動(dòng)態(tài)模組
								
        
								
        
									LCR測(cè)試模組（CG）
        
                           動(dòng)態(tài) RDSON 模組（支援硬切和軟切）
								
        
							        		
							
								
        
									可擴(kuò)充動(dòng)態(tài)模組
								
        
								
        
									雪崩測(cè)試模組（UIS、EAS） 
        
                                                              LCR測(cè)試模組（RG、CG）
								
        
							        		
						
        
						
        
							
								
        
									可擴(kuò)充高壓/直流模組
								
        
								
        
									最高可擴(kuò)展8KV, 2KA
								
        
							        		
							
								
        
									可擴(kuò)充高壓/直流模組
								
        
								
        
									最高可擴(kuò)展8KV, 2KA
								
        
							        		
						
        
						
        
							
								
        
									精準(zhǔn)測(cè)量
								
        
								
        
									Power Device Test Kit內(nèi)建精密測(cè)量電路，實(shí)現(xiàn)nA級(jí)和mΩ級(jí)的精準(zhǔn)測(cè)量。
								
        
							        		
							
								
        
									精準(zhǔn)測(cè)量
								
        
								
        
									GaN Test Kit內(nèi)建精密測(cè)量電路，實(shí)現(xiàn)nA級(jí)和mΩ級(jí)的精準(zhǔn)測(cè)量。
								
        
							        		
						
        
					        
				
        
			
        
		
        
	
        

        
             
 
             

        
	
        
		
        
			
        
				
        
					闆卡資源靈活搭配
				
        
				
        
					我們的設(shè)備採(cǎi)用可插拔式闆卡架構(gòu)，讓您可以根據(jù)需求靈活搭配闆卡，從而實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)把控測(cè)試成本。
				
        
			
        
			
        
				  
			
        
		
        
	
        

        
             
             

        
	
        
		
        
			
        
				功能全面，滿足各類需求
			
        
			
        
				測(cè)試主機(jī)闆卡均為四象限V/I源，配備AWG及示波器，功能全面，滿足如 I-V 曲線等各類掃描測(cè)試需求。
			
        
		
        
		
        
			
        
				 
			
        
			
        
				內(nèi)建示波器圖
			
        
			
        
				 
			
        
			
        
				AWG編輯器
			
        
		
        
	
        

        
             


        
	
        
		
        
			
        
				PTS OS 直覺(jué)易用，
        
                專為測(cè)試&生產(chǎn)而設(shè)計(jì)
			
        
			
        
				我們對(duì) QT-8400 PTS OS 軟體介面全面優(yōu)化，以提升實(shí)用性、美觀性和易用性。 大幅提高測(cè)試開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)以及調(diào)試校準(zhǔn)效率，使用戶輕鬆上手高效操作。
			
        
		
        
		
        
			
        
				 
			
        
			
        
				 
			
        
			
        
				 
			
        
		
        
		
        
			* 已申請(qǐng)專利 
		
        
	
        

        
                
    
    

          

  

  

        
            
        
            
        
            
        

        
   

        



    

  
 











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          2. <cite id="a6p1n"><listing id="a6p1n"></listing></cite>