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  1. <cite id="a6p1n"><listing id="a6p1n"></listing></cite>
    
    

        第三代
        半導(dǎo)體測(cè)試家族
        Third generation semiconductor testing family
        首頁(yè) 產(chǎn)品中心 電晶體測(cè)試 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
        分類(lèi)
         
        QT-3102 熱阻測(cè)試儀

        QT-3102-XX測(cè)試元件類(lèi)型:三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、IGBT、二極體、可選SCR



        支援雙DIE

        1000W電源

        過(guò)載欠壓保護(hù)

        擴(kuò)充SCR

        型號(hào) QT-3102
        產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) QT-3102-XX測(cè)試元件類(lèi)型:三極體、場(chǎng)效應(yīng)管、IGBT、二極體、可選SCR
        R26:可以?xún)?nèi)建在QT-4100的DC測(cè)試項(xiàng)目?jī)?nèi)實(shí)現(xiàn)高功率內(nèi)建熱阻測(cè)試
        R26:透過(guò)scanbox可以實(shí)現(xiàn)Dual Die測(cè)試
        主要特點(diǎn) ? 最大電流、最高電壓視機(jī)型而定,最大電流分別有20A,50A
        ? 最大電壓分別有100V,200V




        Testing standards檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
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        1. <cite id="a6p1n"><listing id="a6p1n"></listing></cite>