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        第三代
        半導(dǎo)體測試家族
        Third generation semiconductor testing family
        首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 功率器件測試系統(tǒng)
        分類
         
        QT-4100 綜合測試系統(tǒng)

        適用於三極管、二極體、齊納二極體、MOS-FET(IGBT、SIC 氮化鎵)、J-FET、Current Sense FET、LDO(78XX、79XX、TL431、TL432常規(guī)測試)、光電耦合器等產(chǎn)品及晶 圓。 可擴(kuò)充:可控矽測試、SCANBOX、Dual Gate-FET、Q Plus 、三極管開關(guān)時間(TST, TR ,TF, TON)、熱阻測試(DVDS, DVCE, DVBE,DVF)等



        限壓限流

        高精度Rdon測試

        模組化功能

        多站資料合併

        型號 QT-4100 綜合測試系統(tǒng)
        產(chǎn)品優(yōu)勢 測量防呆:電壓、電流測量自動自檢,異常自動報警停機測量防呆:電壓、電流測量自動自我檢測,異常自動警報停機
        LOW RDON
        快速自我檢測:無需外接負(fù)載,2分鐘完成自我檢測
        第三人校準(zhǔn):採用Agilent 34401A進(jìn)行校準(zhǔn)
        內(nèi)建示波器功能
        支援多工位設(shè)備數(shù)據(jù)合併
        主要特點 ? 繼電器3ms;
        ? 限壓限流保護(hù);
        ? 支援?dāng)U展EAS,LCR,熱阻,SW,TRR,QG;
        ? 填表式程式設(shè)計;
        ? 支援PAT功能;
        ? 具備SECS/GEM標(biāo)準(zhǔn)介面


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