第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-4100 綜合測試系統(tǒng)
適用於三極管、二極體、齊納二極體、MOS-FET(IGBT、SIC 氮化鎵)、J-FET、Current Sense FET、LDO(78XX、79XX、TL431、TL432常規(guī)測試)、光電耦合器等產(chǎn)品及晶 圓。 可擴(kuò)充:可控矽測試、SCANBOX、Dual Gate-FET、Q Plus 、三極管開關(guān)時間(TST, TR ,TF, TON)、熱阻測試(DVDS, DVCE, DVBE,DVF)等
限壓限流 |
高精度Rdon測試 |
模組化功能 |
多站資料合併 |
型號 | QT-4100 綜合測試系統(tǒng) |
產(chǎn)品優(yōu)勢 |
測量防呆:電壓、電流測量自動自檢,異常自動報警停機測量防呆:電壓、電流測量自動自我檢測,異常自動警報停機 LOW RDON 快速自我檢測:無需外接負(fù)載,2分鐘完成自我檢測 第三人校準(zhǔn):採用Agilent 34401A進(jìn)行校準(zhǔn) 內(nèi)建示波器功能 支援多工位設(shè)備數(shù)據(jù)合併 |
主要特點 |
? 繼電器3ms; ? 限壓限流保護(hù); ? 支援?dāng)U展EAS,LCR,熱阻,SW,TRR,QG; ? 填表式程式設(shè)計; ? 支援PAT功能; ? 具備SECS/GEM標(biāo)準(zhǔn)介面 |
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