第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類(lèi)
列印檢測(cè)工位
基於半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)需求設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，採(cǎi)用運(yùn)轉(zhuǎn)穩(wěn)定的工業(yè)相機(jī)及工控電腦，數(shù)位傳輸準(zhǔn)確無(wú)誤，反映迅速、抓圖清晰、完整可靠
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懸浮電源 |
多Site並行 |
多通道高精度 |
支援多種擴(kuò)展 |
| 型號(hào) | 列印檢測(cè)工位 |
| 產(chǎn)品介紹 |
基於半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)需求設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，採(cǎi)用運(yùn)轉(zhuǎn)穩(wěn)定的工業(yè)相機(jī)及工控電腦，數(shù)位傳輸準(zhǔn)確無(wú)誤，反映迅速、抓圖清晰、完整可靠 全面滿(mǎn)足最高速Handler的生產(chǎn)速度，檢測(cè)工位齊全，滿(mǎn)足客戶(hù)各種檢測(cè)需求。 QV系列偵測(cè)系統(tǒng)，可設(shè)定的偵測(cè)工位有：3D偵測(cè)工位、印字工位、編帶工位、方向工位等 本系統(tǒng)可搭配各款Handler，檢測(cè)範(fàn)圍涵蓋半導(dǎo)體各類(lèi)元件，如：SOT23、SOD123、SOD323、 SOD523、 SOD923、SMA、SMB、SMC、SOD882(1006)、TO92、TO252、SOD129、MBS、SOP8L等軟體 系統(tǒng)提供中英文介面、多層次權(quán)限控制，自動(dòng)化程度高 軟體系統(tǒng)100%聯(lián)動(dòng)研發(fā)，依照機(jī)器視像偵測(cè)流程，最佳化組合、易於操作應(yīng)用 所有工業(yè)相機(jī)的各項(xiàng)參數(shù)，如快門(mén)時(shí)間、增益、對(duì)比、光源亮度等均可透過(guò)軟體調(diào)節(jié) QV系列機(jī)器視覺(jué)辨識(shí)系統(tǒng)，為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的各式封裝裝置，對(duì)產(chǎn)品管腳及塑封體進(jìn)行字模、2D腳位、3D腳部及塑封體表面瑕疵等全方位、高精度視像檢測(cè) 應(yīng)用方便、操作簡(jiǎn)易、系統(tǒng)運(yùn)作穩(wěn)定，提升客戶(hù)的生產(chǎn)能力 及時(shí)檢測(cè)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)各類(lèi)元件精確度，提高生產(chǎn)效率 執(zhí)行校準(zhǔn)快捷，確保零次品率，提升生產(chǎn)品質(zhì) |
| 功能 |
? 偵測(cè)元件接腳資訊（腳長(zhǎng)、腳寬、腳間距、腳偏移、站力度、傾斜度、跨距、管腳長(zhǎng)度差等） ? 偵測(cè)裝置表面印章內(nèi)容（錯(cuò)字、多字、漏字、污損、偏移、重印模糊、刮痕、塑封體崩裂等） ? 偵測(cè)元件側(cè)面資訊（刮痕、崩裂、氣泡等） |
| 基本配置 | CCD相機(jī)、工業(yè)鏡頭、LED光源、機(jī)械結(jié)構(gòu)件 |
| SI偵測(cè) | 最小面積0.7mm*0.7mm，整體平均灰階的差值在40以上 |
| GR&R | <10% |
Recommend推薦產(chǎn)品
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中國(guó)廣東省佛山市南海國(guó)家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號(hào) |
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0757 83207313 (銷(xiāo)售) |
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0757 83208786 (銷(xiāo)售) |
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