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  1. <cite id="a6p1n"><listing id="a6p1n"></listing></cite>
    
    

        第三代
        半導(dǎo)體測(cè)試家族
        Third generation semiconductor testing family
        分類
         
        模組分選機(jī)



        懸浮電源

        多Site並行

        多通道高精度

        支援多種擴(kuò)展

        型號(hào) 模組分選機(jī)
        產(chǎn)品介紹 適用於IGBT模組自動(dòng)上下料、絕緣測(cè)試、常高溫測(cè)試、動(dòng)態(tài)測(cè)試、模組接腳、外觀 、翹曲檢測(cè)。
        功能 ? 可依客戶客製化生產(chǎn)流程,可整合多款測(cè)試設(shè)備共線生產(chǎn)。
        ? 可透過變更測(cè)試工裝,實(shí)現(xiàn)相容多款封裝產(chǎn)品測(cè)試切換。
        ? 水冷實(shí)現(xiàn)快速降溫。


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        1. <cite id="a6p1n"><listing id="a6p1n"></listing></cite>