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  1. <cite id="a6p1n"><listing id="a6p1n"></listing></cite>
    
    

        第三代
        半導(dǎo)體測試家族
        Third generation semiconductor testing family
        聯(lián)動科技成功參展第五屆SEMI-e深圳國際半導(dǎo)體展


        SEMI-e深圳國際半導(dǎo)體展于5月16-18日在深圳國際會展中心順利舉行。


        公司展示了半導(dǎo)體IC測試系統(tǒng)、分立器件測試系統(tǒng)和激光打標(biāo)機(jī)系統(tǒng)的最新產(chǎn)品,包括:QT-8409PM IGBT SIC模塊動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)、數(shù)字模擬混合信號IC測試系統(tǒng)QT-8200(Direct Mount)、全自動激光打標(biāo)系統(tǒng)等先進(jìn)設(shè)備。


        1、QT-8409PM IGBT SIC模塊動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

        2、數(shù)字模擬混合信號IC測試系統(tǒng)QT-8200(Direct Mount)

        3、全自動激光打標(biāo)系統(tǒng)


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        1. <cite id="a6p1n"><listing id="a6p1n"></listing></cite>